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三豐高度規(guī)臺架215-153-10 可配進(jìn)口表
更新時間:2024-10-28
三豐高度規(guī)臺架215-153-10 可配進(jìn)口表三豐花崗巖比較儀臺架是安裝以及精密測量儀的基本裝置。通過在臺架上安裝,Digimatic千分表,Mu-Checker 測頭和線性測微計(jì)等精密量具,可通過多種測量方式完成各種測量任務(wù)。
詳細(xì)資料
品牌 其他品牌 產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子
三豐高度規(guī)臺架215-153-10 可配進(jìn)口表
日本三豐花崗巖比較儀臺架 日本三豐比測臺 日本原裝
21JAA329: ø8mm 套管
21JAA330: ø9.53mm 套管
21JAA331: ø15mm 套管
規(guī)格
貨號
型號
花崗巖基座尺寸 (W x D x H)
立柱行程
軸套孔
備注
215-150-10
BSG-18X
120 x 180 x 50mm
110mm
ø8mm, ø9.53mm
帶有微調(diào)裝置 1mm 測量范圍
215-151-10
BSG-20X
150 x 200 x 50mm
250mm
ø8mm, ø9.53mm
帶有1mm范圍內(nèi)微調(diào)
215-153-10
BSG-25X
200 x 250 x 80mm
260mm
ø8mm, ø9.53mm
帶有1mm范圍內(nèi)微調(diào)
215-156-10
BSG-30HX
300 x 250 x 80mm
275mm
ø8mm, ø9.53mm, ø20mm
帶有全程微調(diào)
*安裝孔與測砧的垂直度:小于 0.2mm/100mm
215系列
三豐花崗巖比較儀臺架是安裝以及精密測量儀的基本裝置。通過在臺架上安裝,Digimatic千分表,Mu-Checker 測頭和線性測微計(jì)等精密量具,可通過多種測量方式完成各種測量任務(wù)。堅(jiān)固的花崗巖基座可防止毛刺、堆積、生銹現(xiàn)象的發(fā)生,而具不會隨時間流逝而變形。
選件
58AAA151:∮8mm 安裝孔徑*
58AAA273:∮9.53mm (3/8”)安裝孔徑*
58AAA276:∮15mm 安裝孔徑*
*僅適用于215-216型號
貨號215-151 花崗巖基座尺寸(W×D×H)150×200×50mm 立柱行程260mm 軸套孔∮8mm 帶有1mm范圍內(nèi)微調(diào)
貨號215-153 花崗巖基座尺寸(W×D×H)200×225×80mm 立柱行程250mm 軸套孔∮8mm 帶有1mm范圍內(nèi)微調(diào)
貨號215-154 花崗巖基座尺寸(W×D×H)300×250×80mm 立柱行程300mm 軸套孔∮8mm 帶有1mm范圍內(nèi)微調(diào)
貨號215-156 花崗巖基座尺寸(W×D×H)300×250×80mm 立柱行程300mm 軸套孔∮8mm ,∮20mm 帶有全程微調(diào)
鑄鐵比較儀臺架
215系列
比較儀臺架由一個非常穩(wěn)定的鑄鐵基座和一個帶有微調(diào)安裝支架的垂直立柱組成。網(wǎng)格型測砧可有效防止粘連工件。
三豐比測臺215-153-10 蘇州總經(jīng)銷
選件
58AAA151:∮8mm 安裝孔徑*
58AAA273:∮9.53mm (3/8”)安裝孔徑*
58AAA276:∮15mm 安裝孔徑*
*僅適用于215-505型號
貨號215-405 方型測砧尺寸(W×D)110×110mm 立柱行程200mm 軸套孔∮8mm 帶有1mm范圍內(nèi)微調(diào)
貨號215-504 方型測砧尺寸(W×D)150×150mm 立柱行程250mm 軸套孔∮8mm 帶有全程微調(diào)
貨號215-505 方型測砧尺寸(W×D)150×150mm 立柱行程250mm 軸套孔∮8mm,∮20mm 帶有全程微調(diào)
蘇州美方機(jī)電主要供應(yīng):三豐量具量儀,三豐測高儀518-351DC,三豐粗糙度儀SJ-210等產(chǎn)品
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